Análisis por Microscopía
Notas Técnicas
Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (FE-SEM) JSM-7200F altamente versátil y fácil de usar que ofrece un nuevo nivel de rendimiento superior al usuario Este SEM de alta resolución es ideal para imágenes y análisis de nanoestructuras, y para determinar la composición química de la muestra a través de espectroscopía de rayos X. Combinando grandes corrientes de haz con un tamaño de sonda pequeño a cualquier voltaje de aceleración, el JSM-7200F aumenta drásticamente la resolución analítica a la escala sub 100nm. Para el análisis de muestras no conductoras, el JSM-7200F / LV está disponible con presión variable.
Especificaciones Generales:
En uno de sus discursos el fundador de la Organización, el Ing. Roberto Maidanik, cuando le preguntaron a que se debía el éxito de las empresas contestó:…
mi gran virtud fue rodearme de excelentes colaboradores