Microscopio electrónico de barrido (SEM) JSM-IT200 multifuncional de uso general con una nueva interfaz de usuario intuitiva, haciendo uso de una pantalla de control y panel táctil.

El JSM-IT200 realiza el análisis elemental por EDS totalmente integrado. El modo de bajo vacío está incluido en las configuraciones LV y LA, este módulo ofrece una fácil observación de materiales no conductores sin pre-tratamiento. En su versión LA incluye la capacidad de análisis EDX en un interfaz totalmente integrado en el software de control del microscopio.

Incluye toda la funcionalidad y prestaciones de un microscopio electrónico de barrido tipo termoiónico con un diseño compacto y un manejo sencillo.

Capacidad de selección continúa del voltaje de aceleración en el rango 0.5 – 20 kV (30kV opcional) y de la presión de trabajo en bajo vacío entre 1 y 100 Pa. Alcanza una resolución máxima de 4nm a 20 kV y máximos aumentos de x300.000.

Especificaciones Generales:

• Facilidad de manejo con interfaz táctil.
• Platina eucéntrica.
• Rango de aumentos x5-x300.000.
• Adquisición de datos rápida y automática.
• Dimensiones reducidas.
• Barras de herramientas personalizadas para funciones repetitivas.
• Imágenes de electrones secundarios y retrodispersados.
• Voltaje de aceleración seleccionable entre 0.5 y 20 kV (30kV opcional).
• Sistema de vacío totalmente automático con presión seleccionable.
• Imagen en directo a pantalla completa.