Microscopio electrónico de barrido (SEM) JSM-IT500 para trabajos en modos de alto y bajo vacío, en la versión que incluye bajo vacío permite trabajar en este modo a presiones de hasta 650 Pa. Posee un nuevo diseño de los detectores de electrones secundarios y de electrones retrodispersados.

El JSM-IT500 es un microscopio electrónico de barrido de altas prestaciones con una resolución de 3.0 nm a 30 kV y 15nm a 1 kV.

El modo de bajo vacío, al que se accede con un clic, permite la observación de muestras que no podrían observarse en las condiciones de vacío habituales en un microscopio por su alto contenido en agua o debido a su superficie no conductora, permite el control del microscopio por pantalla táctil mediante su nuevo software de fácil manejo.

Entre las funciones automáticas estándar se incluyen autofoco/ autoastigmador, cañón (saturación, bias y alineamiento) y ajuste automático de contraste y brillo.

Especificaciones Generales:

• Nueva platina más rápida y precisa.
• Motorización en los 5 ejes para muestras de gran tamaño.
• Más puertos para accesorios. Doble EDS a 35º opuestos 180º.
• Platina macánicamente eucéntrica a cualquier distancia de trabajo.
• Lentes tipo Zoom: foco y área de interés siempre óptimos al variar cualquier parámetro.
• Interfaz de usuario mediante pantalla táctil Multi-Touch.
• Navegación de la muestra con imágen color.