Microscopía Electrónica
- Microscopios Electrónicos de Barrido (SEM)
- Microscopios Electrónicos de Transmision (TEM)
- Microsondas de Electrones (EPMA)
- Microanálisis de Rayos X Dispersivos en Energía (EDS)
- Microanálisis de Rayos X Dispersivos Longitud de Onda (WDS)
- Difractómetros de Electrones Retrodufundidos (EBSD)
- Cámaras Digitales para Microscopios Electrónicos
- Metalizadores para Muestras SEM (sputter/coater)
- Consumibles para Preparación de Muestras de TEM y SEM
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Microscopios Electrónicos de Barrido (SEM)
JSM-6010LA InTouchScope
Un SEM compacto y de manejo sencillo para aplicaciones industriales y uso didáctico.
Alto desempeño a un costo mínimo
- Microanálisis químico EDS integrado
- Modo de Bajo Vacío (muestras sin preparación)
- Operación intuitiva mediante pantalla táctil
- Fácilmente transladable a otro laboratorio
Aplicaciones
- Metalografía
- Análisis de inclusiones
- Control de calidad
- Estudios de corrosión y desgaste
- Análisis de fracturas
- Aplicaciones didácticas y de formación
JSM-6510
Un SEM confiable y robusto de bajo costo para el trabajo rutinario con muestras de todo tipo.
Mínimo costo operativo
- Diseño robusto de bajo mantenimiento
- Requerimientos mínimos de espacio e instalaciones
- Mínima inversión inicial
Gran variedad de accesorios disponibles
- Sistema de Bajo Vacío
- Microanálisis de Rayos X
- Cañón de Hexaboruro de Lantano (LaB6)
- Motorización de platina
- Análisis cristalino EBSD
JSM-6610
SEM con cañón termoiónico de altas prestaciones y gran capacidad de expansión.
Gran cámara de muestras
- Muestras de hasta 200 mm y 3 Kg
- Platina motorizada en 5 ejes, control por software
- EDS, WDS, EBSD, Detector BE, etc. simultanemente
- Platina eucéntrica a cualquier distancia de trabajo
- Lentes tipo Zoom, mantienen el foco al variar el Spot Size
- Cañón de Hexaboruro de Lantano (LaB6) opcional
- Precámara para cambio rápido de muestras
JSM-7600F
La mejor calidad de imágen y las mas altas capacidades analíticas, en un SEM de última generación.
Todo integrado en el modelo estándar
- Imágen de ultra alta resolución: 1.0 nm
- Excelentes prestaciones a baja tensión: 1.5 nm a 1kV
- Múltiples detectores simultáneamente: SEI, BEI, EDS, WDS, EBSD, CL, etc.
- Cañón Termal-Schottky integrado en la lente condensadora.
- Máxima corriente de haz: 200 nA
- Lente de control de ángulo de apertura que mantiene un spot size pequeño aún a altas corrientes.
- Filtro R para imagen de electrones de un rango de energía seleccionado.
- Desaceleración del haz antes de la muestra.
COASIN S.A.
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