Microscopios > WDS Espectrómetros de Rayos X dispersivos en Longitud de Onda
Microanálisis en muestras para microscopios electrónicos. La más alta resolución de picos, libre de superposición. Detección trazas de elementos. Modelos optimizados para 6 elementos o para todo el espectro de rayos X. Tecnología patentada de óptica policapilar.
