| Difractómetros de Rayos X | La división ARL de Thermo Fisher Scientific acumula varias décadas de experiencia en el campo del análisis por difracción de rayos X, iniciada a través de la inestimable incorporación al grupo de la afamada firma californiana Scintag, precursora de innumerables innovaciones en esta técnica.
Alrededor del 95% de todos los materiales sólidos que nos rodean pueden describirse como cristalinos. Cuando los rayos X interactúan con una sustancia cristalina pura, a la que también podemos denominar "fase", se obtiene un patrón de difracción. Lo natural es que los cuerpos esten compuestos por varias sustancias o fases, y para caracterizarlos, es imprescindible identificar y cuantificar a cada una de ellas.
En 1919 el científico A. W. Hull publicó un trabajo titulado "A New Method of Chemical Analysis." (Un nuevo método de análisis químico). Allí establecía que:
"…. Cada sustancia cristalina da un patrón o modelo; la misma sustancia siempre tiene el mismo modelo, y en una mezcla de sustancias, cada una de ellas produce su patrón independientemente de las otras."
El modelo de rayos X de una sustancia pura es, por lo tanto, como una impresión digital de tal sustancia. El método de difracción de polvos es así idealmente adecuado para caracterizar e identificar las fases policristalinas.
Actualmente se han recogido y almacenado como estándares en medios magnéticos u ópticos alrededor de 50.000 fases cristalinas de componentes simples inorgánicos y 25.000 de orgánicos. El uso principal de la difracción de polvos es identificar componentes en una muestra por el procedimiento de búsqueda y comparación. Además, las áreas bajo los picos de difracción se relacionan con la cantidad de cada fase que está presente en la muestra. | |
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| ARL X'TRA | 
 | El difractómetro ARL X'TRA de Thermo Fisher Scientific es un sistema avanzado para múltiples propósitos diseñado para laboratorios analíticos, tanto académicos como industriales. Es ideal también para análisis rutinarios o aplicaciones altamente demandantes que requieren accesorios especiales. Las principales cualidades de este instrumento se encuentran en su desempeño analítico, su ergonomía y su seguridad.
El diseño del ARL X'TRA está basado en la geometría vertical - Bragg-Brentano, para una preparación y manipulación conveniente de las muestras. Mediante la tecnología de detectores Peltier, se obtiene un desempeño óptimo tanto en resolución angular como de energías, sin el uso de filtros ? o monocromadores. Este elegante diseño produce intensidades de difracción más altas y resoluciones superiores en comparación con los obtenidos mediante losdetectores tradicionales. Dependiendo del tipo de análidi o el tipo de muestra, el sistema puede fácilmente ser reconfigurado usando accesorios pre alineados del tipo Plug & Play, tales como cámaras de temperatura, ópticas de haces paralelos, o platinas de transmisión. El diseño modular del ARL X'TRA provee total flexibilidad sin compromisos de performance para un gran número de aplicaciones cubriendo materiales policristalinos, tanto orgánicos como inorgánicos.
Rango amplio de técnicas analíticas:
La difracción por rayos X es una técnica versátil y no destructiva que revela una información detallada de la estructura y la química de los materiales cristalinos.
- Identificación de fases simples o múltiples en muestras desconocidas.
- Cuantificación de fases conocidas en una mezcla
- Cristalografía - resolución de estructuras cristalinas.
- Análisis no ambiental - cambios de estructuras cristalinas con la temperatura, presión o fases gaseosas.
- Análisis de superficies y películas delgadas.
- Análisis de texturas.
Rango muy amplio de materiales
Pueden caracterizarse materiales naturales o manufacturados, de química orgánica o inorgánica. Al gunos que pueden mencionarse son:
- Químicos
- Sustancias farmacéuticas y forenses
- Polvos ambientales y pigmentos
- Asbestos
- Rocas
- Minerales
- Zeolitas
- Polímeros
- Metales
- Cementos | | Ver Mas Productos del Fabricante | Visitar Página |
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